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低溫卷繞試驗裝置

簡要描述：

低溫(wen)卷繞試驗裝置符合GB2951.14.8.1-2008、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標(biao)準。適用于考核測定圓形(xing)電纜(lan)或圓形(xing)絕緣線(xian)芯在(zai)低溫(wen)狀態下的(de)性能，與低溫(wen)箱配套(tao)使用。

TH-8002低(di)溫卷繞試驗(yan)裝置

低溫卷繞試(shi)驗(yan)裝置符合GB2951.14.8.1-2008、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標準。適(shi)用于考(kao)核測定圓形(xing)電纜(lan)或(huo)圓形(xing)絕緣線芯在低溫狀態下(xia)的性能(neng)，與低溫箱配套使用。

1、低溫卷繞試(shi)樣(yang)直徑：Ф2.5～Ф12.5mm        

2、卷(juan)繞棒直徑：Ф4.0～Ф37.5mm共13支

3、過線(xian)套：Ф3.5、Ф6、Ф10、Ф12、Ф16mm各二(er)件    

4、試樣纏(chan)繞圈數：2～10圈

5、本系(xi)列(lie)裝置(zhi)全(quan)為不(bu)銹鋼制作

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